平晶是一種由光學玻璃或石英制成的物理測量工具以光波幹涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的幹涉條紋來測量被測量面的平面度。平晶有三種類型：平行平晶、平行平晶和長平晶。

平面平晶用於驗證量塊的可磨性和平面度，以及儀器和量具的測量和工作表面的平面度。它還可以用於驗證高精度的平面元件，如平面光學元件、先進的平臺、平板、導軌、密封件等。特別適用於測量單元、實驗室作為標準平面和模板。

平行平晶用於驗證測量表面的平面度以及測量工具（如千分尺、杠桿千分尺）的兩個相對測量表面的平行度。

長平晶是一種標準測量工具，用於使用等傾角幹涉測量法驗證平面尺在地面上的平面度。

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