电磁兼容性试验

电磁兼容性（Electro Magnetic Compatibility，EMC）是指设备或系统在其电磁环境中符合要求运行并不对环境中任何设备产生无法忍受的电磁干扰的能力。因此，EMC 包括两个方面的要求：一是设备在正常运行过程中对所在环境产生的电磁干扰不能超过一定的限值；二是设备对所在环境中存在的电磁干扰具有一定的抗扰度，即电磁敏感性。

电磁兼容性的标准定义主要包括以下两个方面。

（1）电磁辐射：能量以电磁波形式由辐射源发射到空间的现象；能量以电磁波形式在空间传播。

（2）抗扰度：装置、设备或系统面临电磁骚扰不降低运行性能的能力。

电磁干扰源的种类繁多，主要来自自然干扰源和人为干扰源。自然干扰源包括大气噪声、太阳噪声、宇宙噪声、静电放电。人为干扰源指电气/电子设备和其他人工装置产生的电磁干扰。结合电磁干扰源的特殊性，开展电磁兼容性试验需要的基础设施及检验检测方法具有比较特殊及专用的要求。

电磁兼容性试验的基础设施是电波暗室，电波暗室主要由屏蔽室和吸波材料组成。屏蔽室由屏蔽壳体、屏蔽门、通风波导窗及各类电源滤波器等组成。吸波材料由工作频率范围在 30MHz～1000MHz 的单层铁氧体片，以及锥形含碳海绵吸波材料构成，锥形含碳海绵吸波材料由聚氨酯泡沫塑料在碳胶溶液中渗透而成，具有较好的阻燃特性。在实际使用过程中，我们经常接触到的是 3m 法、5m 法、10m 法暗室，3m 法、5m 法、10m 法由受试设备（EUT）的外形尺寸和测试要求确定，三者的典型的功能性比较如表 4-16 所示。典型半电波暗室内部外观如图 4-6 所示。

表 4-16　3m 法、5m 法、10m 法的典型的功能性比较

续表

从表 4-16 可以看出，尺寸越大的电波暗室，其功能越全、性能越优，主要体现在以下方面。

（1）转台直径大，承重能力强，可以测量更重的受试设备。

（2）静区更大，可以测量外观更大的受试设备。

（3）误差更小，数据更加准确，更具权威。

图 4-6　典型半电波暗室内部外观

通过对电磁兼容性相关内容的了解，下面就电磁兼容性的各项试验内容逐项加以介绍。

4.6.1　1GHz 以下辐射骚扰试验

辐射骚扰是电磁兼容性试验的重要内容。辐射骚扰不合格的产品可能降低周围装置、设备或系统的性能，干扰信息技术设备或其他电子产品的正常工作。

辐射骚扰是在产品研发和认证检测阶段中最容易产生问题的电磁兼容性检测项目，并且在整改符合要求后，往往会显著增加产品的成本。

1. 试验内容

产品的辐射骚扰指以电磁波的形式通过空间传播能量的电磁骚扰。1GHz 以下辐射骚扰试验指频率覆蓋范围为 30MHz～1GHz 的电磁骚扰检测。

2. 试验目的

1GHz 以下辐射骚扰试验通过测试受试设备的电磁骚扰电平，确认其满足辐射骚扰对应频率范围的限值要求，保证该设备或系统在其电磁环境中能正常工作且不对该环境中任何事物构成不能承受的电磁骚扰。

3. 试验依据

1GHz 以下辐射骚扰试验标准如表 4-17 所示。

表 4-17　1GHz 以下辐射骚扰试验标准

4. 试验方法

按照图 4-7，将受试设备与辅助设备接好。由数个独立单元组成的系统应按最小的、有代表性的配置来组合。试验配置中所包含单元的数量和组合通常应能代表典型系统所使用的那种配置。选择单元的理由应在试验报告中注明。

在 30MHz～1GHz 频率范围内，用带有准峰值检波器的测量接收机进行测量。

图 4-7　1GHz 以下辐射骚扰试验布置示意图

1GHz 以下的测量天线应使用偶极子天线。当频率等于或高于 80MHz 时，天线的长度应为谐振长度；当频率低于 80MHz 时，天线长度应等于 80MHz 的谐振长度。

从天线到 EUT（受试设备）边框的水平距离应满足辐射骚扰限值测量距离的要求。

对于每个测试频率，应在接地平板上方 1m～4m 的范围内调整天线的高度，以获得最大的指示值。

在测量过程中，通过转台改变天线和 EUT 之间的方位角以寻找最大的场强读数。为了寻找最大的场强读数，应相对 EUT 依次将天线改变为水平或垂直极化方式。

1GHz 以下的测量场地通常使用 10m 法半电波暗室。

GB/T 9254—2008 中对 1GHz 以下辐射骚扰的限值要求如表 4-18 和表 4-19 所示。

表 4-18　A 级 ITE（信息技术设备）在测量距离R（10m）处的辐射骚扰限值

表 4-19　B 级 ITE（信息技术设备）在测量距离R（10m）处的辐射骚扰限值

信息技术设备（ITE）分为 A 级和 B 级两类。

B 级 ITE 是指满足 B 级辐射骚扰限值要求的那类设备。它主要用在生活环境中，包括不在固定场所使用的设备，如由内置电池供电的便携式设备；通过电信网络供电的电信终端设备；个人计算机及相连的辅助设备。

注：生活环境是指那种有可能在离有关设备 10m 远的范围内使用广播和电视接收机的环境。

A 级 ITE 是指满足 A 级辐射限值要求但不满足 B 级辐射限值要求的那类设备。对于这类设备不限制其销售，但应在其有关的使用说明书中包含如下内容：

警告此为 A 级产品。在生活环境中，该产品可能会造成无线电骚扰。在这种情况下，可能需要用户对干扰采取切实可行的措施。

4.6.2　1GHz 以上辐射骚扰试验

1. 试验内容

产品的 1GHz 以上辐射骚扰试验的频率覆蓋范围是 1GHz～6GHz。

2. 试验目的

试验目的同 1GHz 以下辐射骚扰试验（见 4.6.1 节）。

3. 试验依据

1GHz 以上辐射骚扰试验标准如表 4-17 所示。

4. 试验方法

一般来说，EUT 在 1GHz 以下的测量布置和工作条件也适用于 1GHz 以上测量。在任何情况下，测量布置应代表 EUT 最典型的布置（台式、落地式、机架安装式、壁挂式等）。测量布置也应考虑 1GHz 以上发射试验，天线和 EUT 之间的地板上要铺上吸波材料。根据实际需要，进行 1GHz 以上发射试验时，EUT 应高于吸波材料的高度。

如果没有办法使整个 EUT 高于吸波材料（比如放在机架上的或落地式 EUT），则应尽量使 EUT 的发射单元处于吸波材料的上方（如使用支架或托盘）。如果使 EUT 或其发射单元的位置高于吸波材料的测量布置不可行且不安全，那么允许 EUT 的位置低于吸波材料的最高点（30cm）。

在试验报告中应记录 EUT 的布置照片或用图表清楚地表示出 EUT 的位置，包括地板或转台表面、地板上吸波材料和接收天线的高度及位置。

1GHz 以上辐射骚扰测试基于对 EUT 所发射的最大电场强度的测量，其布置如图 4-8 所示。

图 4-8　1GHz 以上辐射骚扰测试（天线垂直极化）

对图 4-8 中的参数、条件的描述如下。

试验空间：场地确认程序所确认的空间。它决定了能在其中进行试验的 EUT 的最大尺寸。

EUT（空间）：可容纳整个 EUT（包括线缆支架、最短为 30cm 的线缆）的最小直径的圆柱体。通过远程控制转台，位于这个圆柱体内的 EUT 可以绕其中心转动。EUT 一定要处于有效试验空间之内。当 EUT 为落地式设备且无法升到高于吸波材料高度时，w（见下面定义）可低于地面上吸波材料的高度，最大不能低于 30cm。

θ3dB：在每个目标频率上，接收天线的最小 3dB 波瓣宽度。此参数可以从接收天线制造商提供的数据中得到。

d：测量距离（单位为 m），指从 EUT 的边缘到接收天线的参考点之间的水平距离。

w：在测量距离d处，由θ3dB所确定的到 EUT 两条正切线之间的距离。

h：接收天线高度，从天线的参考点到地面的距离。

通过升降天线的高度和旋转转台的角度（0°～360°），来测量 EUT 的最大发射值。图 4-9 描述和规定了测量两种不同类型的 EUT 时的天线高度扫描范围。

图 4-9　测量两种不同类型的 EUT 时的天线高度扫描范围

对于任何最大尺寸小于或等于w的 EUT，其接收天线的中心应固定在与 EUT 中心位置相同的高度［如图 4-9（a）所示］。对于最大垂直尺寸大于w的 EUT，其接收天线的中心应沿着平行于w的线进行垂直扫描［如图 4-9（b）所示］。扫描高度h的范围为 1m～4m。如果 EUT 的高度小于 4m，则接收天线的中心不需要扫描 EUT 的顶部以上高度。对于上述两种情况，应将固定高度h或高度的扫描范围记录在试验报告里。

1GHz 以上的测量场地通常使用 3m 法半电波暗室。

GB/T 9254—2008 中对 1GHz 以上辐射骚扰的限值要求如表 4-20 和表 4-21 所示。

表 4-20　A 级 ITE（信息技术设备）在测量距离R（3m）处的辐射骚扰限值

表 4-21　B 级 ITE（信息技术设备）在测量距离R（3m）处的辐射骚扰限值

测量频率上限的选择如下。

EUT 内部源的最高频率指在 EUT 内部产生或使用的最高频率，或 EUT 工作或调谐的频率。

如果 EUT 内部源的最高频率为 108MHz，则测量只进行到 1GHz。

如果 EUT 内部源的最高频率为 108MHz～500MHz，则测量只进行到 2GHz。

如果 EUT 内部源的最高频率为 500MHz～1GHz，则测量只进行到 5GHz。

如果 EUT 内部源的最高频率高于 1GHz，则测量进行到最高频率的 5 倍处或 6GHz，取两者中的小者。

4.6.3　电源端子/电信端口传导（共模）骚扰试验

1. 试验内容

产品的传导骚扰指通过一个或多个导体传递能量的电磁骚扰。

电源端子传导骚扰试验指频率覆蓋范围为 0.15MHz～30MHz 的电源端口的电磁骚扰检测。

电信端口传导共模骚扰试验指频率覆蓋范围为 0.15MHz～30MHz 的电信端口的电磁骚扰检测。

2. 试验目的

电源端子/电信端口传导（共模）骚扰试验是为了衡量信号通过设备从电源端口、信号端口向电网或信号网络传输所产生的骚扰程度。

3. 试验依据

常用的产品电源端子/电信端口传导（共模）骚扰试验标准如表 4-22 所示。

表 4-22　常用的产品电源端子/电信端口传导（共模）骚扰试验标准

4. 试验方法

按照图 4-10，将受试设备与辅助设备接好。

图 4-10　电源端子/电信端口传导（共模）骚扰试验布置示意图

在 0.15MHz～30MHz 频率范围内，用带有准峰值检波器和平均值检波器的测量接收机进行测量。

垂直或水平放置的参考接地平板应至少超出测试布置投影 0.5m，且最小尺寸为 2m×2m。

为了在端子电压测量点上提供规定的高频阻抗，并把被测电路和电网上的背景噪声隔离开，需要使用 AMN（人工电源网络）。被测单元的电源电缆应连到 AMN 上。

将 AMN 放在参考接地平板上并与其搭接，使其距离被测单元边界 0.8m。该距离为 AMN 和 EUT 之间最接近的点。EUT 和辅助设备的所有其他单元应至少距离 AMN 0.8m。

如果制造商提供的电源电缆长度长于 1m，则将其在电缆中部来回折叠成 1m 长的电缆，其中的折叠长度不超过 0.4m。

EUT 所有其他单元的电源电缆应连到第二个 AMN 上，其搭接方式与供被测单元用 AMN 的搭接方式相同。AMN 的接收机端口应短接 50Ω 负载。

在电源端口进行传导骚扰测量时，所有电信和信号端口必须用合适的辅助设备或有代表性的终端端接。在对电源端口进行传导骚扰测量时，如果电信端口连接了 ISN（阻抗稳定网络），则 ISN 的接收机端口应用 50Ω 终端端接，与电信网络连接的 ISN 端口的 LCL（纵向转换损耗）值应能代表电信网络（如 5 类电缆 CAT5）。

如果用 ISN 在电信端口测量，ISN 通常应距离 EUT 0.8m 并搭接到参考接地平板上。EUT 的其他单元应距离 ISN 至少 0.8m。

电信端口的测量，为了对 LAN（局域网）处于高效使用时的发射进行可靠的测量，只需要使 LAN 的流量处于正常流量的 10% 以上并至少保持 250ms。试验的流量内容应包含周期性信息和伪随机信息，以模拟实际的数据传输类型。如果 LAN 在空闲状态期间还保持传输，则测量还应在空闲状态下进行。

1GHz 以下的测量场地通常使用满足标准要求的屏蔽室。

GB/T 9254—2008 中对传导骚扰的限值要求如表 4-23、表 4-24、表 4-25、表 4-26 所示。

表 4-23　A 级 ITE 电源端子传导骚扰限值

表 4-24　B 级 ITE 电源端子传导骚扰限值

表 4-25　A 级电信端口传导共模（不对称）骚扰限值

表 4-26　B 级电信端口传导共模（不对称）骚扰限值

信息技术设备分为 A 级和 B 级两类，参见 1GHz 以下辐射骚扰的相关内容。

4.6.4　静电放电抗扰度试验

1. 试验内容

产品的静电放电抗扰度试验指使用静电模拟发生器模拟静电放电现象，对在正常使用时人员可接触到的受试设备上的点和面施加静电放电信号。

对于以下情况，可以考虑不施加静电放电信号：维修时才接触到的点和表面，最终用户保养时接触到的点和表面，设备安装固定后或按使用说明书使用后不再能接触到的点和面，外壳为金属的同轴连接器和多芯连接器可接触到的点，由于功能原因对静电放电敏感并有静电放电警告标签的部位。

2. 试验目的

信息技术类产品在使用过程中应当具有足够的抗静电能力，以保证其遭受直接来自操作者或操作者对临近物体的静电放电后，性能不会降低。

3. 试验依据

常用的产品静电放电抗扰度试验标准如表 4-27 所示。

表 4-27　常用的产品静电放电抗扰度试验标准

4. 试验方法

按照图 4-11，将受试设备与辅助设备接好。试验设备包括一个放在接地参考平面上 0.8m 高的非导电木桌。

放在木桌上的水平耦合板（HCP）的尺寸为 1.6m×0.8m，并用一个厚 0.5mm 的绝缘衬垫将受试设备、电缆与耦合板隔离。垂直耦合板（VCP）的尺寸为 0.5m×0.5m。耦合板通过各端接有 470kΩ 的电缆连接到接地参考平面，以防止电荷的累积。

静电放电仅对设备在正常使用期间可能被触及的点或者面施加，包括在用户手册中规定的用户可能触及的部分。

试验点的数量视具体设备而定，具体选择可以参照 GB/T 17626.2—2018 中的要求。当选择试验点时，应特别关注键盘、拨号盘、电源开关、鼠标、驱动器缝隙、卡插槽、通信端口等部位。

对导电平面和耦合板采用接触放电模式，EUT 应承受至少 200 次静电放电，其中正、负极性各 100 次，且应至少在 EUT 的 4 个试验点上进行。如果没有适用的直接接触试验点，则应以间接放电模式，通过耦合板进行至少 2000 次放电。

图 4-11　静电放电抗扰度试验布置示意图

对孔、缝和绝缘表面采用空气放电模式，当对 EUT 的某些部位无法进行接触放电试验时，宜对设备进行检查并辨别使用者易接触且易发生空气击穿的点，如按键边缘的缝隙、键盘和电话听筒的外壳。对这些部位按空气放电模式进行试验。

静电放电试验的测量场地的气候条件要求保证环境温度为 15℃～35℃，相对湿度为 30%～60%。

GB/T 17626.2—2018 中对静电放电的试验等级要求如表 4-28 所示。

表 4-28　静电放电的试验等级要求

依据 GB/T 17618—2015，电磁兼容性抗扰度试验的一般性能判据规定制造商有责任对其产品根据预期性能给出性能判据。同时，该标准给出如下四种类型的性能判据。

（1）性能判据 A：在试验期间和试验后，不需要操作人员介入，EUT 应能按预期持续工作。

（2）性能判据 B：试验后，不需要操作人员介入，EUT 应能按预期持续工作。在试验期间，性能降低是允许的，但在试验后，工作状态不应改变，储存的数据不应丢失。

（3）性能判据 C：在试验期间和试验后，允许出现暂时性的功能损失，只要该功能可自行恢复，或者能由使用者根据制造商说明，通过控制器操作或 EUT 重新通电后就能使其恢复。存储在非易失性存储器内的或有备用电池保护的功能和/或信息不应丢失。

（4）特定性能判据：优先于一般性能判据。静电放电的性能判据参照 GB/T 17618—2015 执行。

4.6.5　射频电磁场辐射抗扰度试验

1. 试验内容

产品的射频电磁场辐射抗扰度试验指使用信号源和天线模拟电磁辐射环境对电子设备的干扰，以考核电子设备在规定的电磁场强度干扰下是否正常工作或性能降低，主要针对电子设备的整机外壳进行考核。

2. 试验目的

信息技术类产品在使用过程中应当具有足够的抗射频电磁场辐射能力，以保证其在遭受有意产生的电磁场干扰后，仍能正常工作，性能不会降低。

3. 试验依据

射频电磁场辐射抗扰度试验标准如表 4-29 所示。

表 4-29　射频电磁场辐射抗扰度试验标准

4. 试验方法

按照图 4-12，将受试设备与辅助设备接好。台式 EUT 应放在一个 0.8m 高的绝缘试验台上。

图 4-12　连续波辐射抗扰度试验布置示意图

试验前，半电波暗室应满足场地均匀性校准要求。

测试前，对校准场验证后可以运用校准中获得的数据产生试验场。

将 EUT 置于使其各个面与校准的平面相重合的位置。

用 1kHz 的正弦波对信号进行 80% 的幅度调制后，在预定的频率范围内进行扫描试验。在每个频率点上，幅度调制载波的扫描驻留时间应不短于 EUT 动作及响应所需的时间，且不得短于 0.5s。发射天线应对 EUT 的四个侧面逐一进行试验。对 EUT 的每个侧面需要在发射天线的两种极化状态下进行试验。

在试验过程中，应尽可能使 EUT 充分运行，并在所有选定的敏感运行模式下进行抗扰度试验。

辐射抗扰度的测量场地一般使用半电波暗室。

GB/T 17626.3—2016 中对辐射抗扰度的试验等级要求如表 4-30 所示。

表 4-30　辐射抗扰度的试验等级要求

连续波辐射抗扰度试验判据准则同静电放电抗扰度试验。

4.6.6　电快速瞬变脉冲群抗扰度试验

1. 试验内容

产品的电快速瞬变脉冲群抗扰度试验主要模拟电子设备在使用过程中产生的开关通断信号、继电器信号等干扰信号，考核电子设备是否正常工作或性能降低；主要针对电子设备的电源端口、信号端口、控制和接地端口进行考核。

2. 试验目的

产品在使用过程中，其供电电源端口、信号端口、控制和接地端口在受到电快速瞬变脉冲群干扰时，应能够正常工作，性能不会降低。

3. 试验依据

常用的产品电快速瞬变脉冲群抗扰度试验标准如表 4-31 所示。

表 4-31　常用的产品电快速瞬变脉冲群抗扰度试验标准

4. 试验方法

按照图 4-13，将受试设备与辅助设备接好。台式 EUT 应放在一个 0.1m 高的绝缘支座上。

图 4-13　电快速脉冲群抗扰度试验布置示意图

EUT 都应放在接地参考平面上，并用厚度为 0.1m 的绝缘支座（包括不导电的滚轮）与之隔开。

接地参考平面的最小尺寸为 0.8m×1m。根据实际情况，接地参考平面各边至少应比受试设备多出 0.1m。

受试设备应该按照设备安装规范进行布置和连接，以满足其功能要求。

除了接地参考平面，受试设备与所有其他导电性结构之间的最小距离应大于 0.5m。

该试验采用符合标准的脉冲群信号发生器完成。

对信号和控制端口的试验，需要优先使用容性耦合夹将试验电压耦合到相应端口上。

脉冲群的测量场地应满足气候条件和电磁条件的基本要求。

GB/T 17626.4—2018 中对脉冲群抗扰度的试验等级要求如表 4-32 所示。

表 4-32　脉冲群抗扰度的试验等级要求

电快速瞬变脉冲群抗扰度试验判据准则同静电放电抗扰度试验。

4.6.7　浪涌（冲击）抗扰度试验

1. 试验内容

产品的浪涌（冲击）抗扰度试验主要模拟电子设备在使用过程中由开关和雷电瞬变过电压引起的单极性浪涌干扰信号，考核电子设备是否正常工作或性能降低；主要针对电子设备的电源端口、信号端口和电信端口进行考核。

2. 试验目的

信息技术类产品在使用过程中，其供电电源端口、信号端口和电信端口在受到浪涌信号干扰时，应能够正常工作，性能不会降低。

3. 试验依据

常用的产品浪涌（冲击）抗扰度试验标准如表 4-33 所示。

表 4-33　常用的产品浪涌（冲击）抗扰度试验标准

4. 试验方法

电源端口试验配置示意图如图 4-14 所示。当前浪涌信号施加模式是线-线耦合。

图 4-14　电源端口试验配置示意图

浪涌抗扰度有两种类型的模拟信号发生器。对于连接到对称通信线的端口，应使用 10/700μs 组合波发生器。对于其他情况，特别是连接到电源线和短距离信号互连线的端口，应使用 1.2/50μs 组合波发生器。

各试验等级都必须从第一级逐步升级，脉冲间隔至少为 1 次/分钟。

直流电源口的测试应该去掉同步信号，不应该设置角度变化。交流电源口的测试则应加上同步信号，对角度变化可根据产品或者用户要求设置任意角度，如果没有特殊要求，则按照标准要求设置角度变化。

由于网络内部耦合/去耦电路的设置不一定能让受试设备处于工作状态，这时可以选择受试设备处于断开或者非典型工作状态进行试验。

浪涌的测量场地应满足气候条件和电磁条件的基本要求，实验室的电磁环境不应影响试验结果。

GB/T 17626.5—2008 中对浪涌抗扰度的试验等级要求如表 4-34 所示。

表 4-34　浪涌抗扰度的试验等级要求

浪涌（冲击）抗扰度试验判据准则同静电放电抗扰度试验。

4.6.8　射频场感应的传导骚扰抗扰度试验

1. 试验内容

产品的射频场感应的传导骚扰抗扰度试验主要模拟 150kHz～80MHz 频率范围内射频发射机电磁骚扰信号，考核电子设备是否正常工作或性能降低，被考核设备至少通过一条连接电缆与射频场相耦合。该试验主要针对电子设备的电源端口、信号端口和电信端口进行考核。

2. 试验目的

产品在使用过程中，其供电电源端口、信号端口和电信端口在受到来自 150kHz～80MHz 的射频场耦合信号干扰时，应能够正常工作，性能不会降低。

3. 试验依据

常用的产品射频场感应的传导骚扰抗扰度试验标准如表 4-35 所示。

表 4-35　常用的产品射频场感应的传导骚扰抗扰度试验标准

4. 试验方法

按照图 4-15 连接受试设备和测试设备。

图 4-15　射频场感应的传导骚扰抗扰度试验布置示意图

按照标准要求，依次将测试信号源连接到每个耦合装置（CDN、电磁钳、电流钳）上进行试验，其他所有非被测电缆应断开（当功能允许时）或使用去耦网络或未端接的 CDN。

扫频范围为 150kHz～80MHz，使用调整程序中确定的信号电平，骚扰信号是 1kHz 正弦波调幅（调幅度为 80%）信号。

射频场感应的传导骚扰抗扰度测量场地应满足实际使用时的气候条件，实验室的电磁环境不应影响试验结果。当辐射能量超过允许的电平时，应使用屏蔽室进行试验。

GB/T 17626.6—2017 中对传导骚扰抗扰度的试验等级要求如表 4-36 所示。

表 4-36　传导骚扰抗扰度的试验等级要求

射频场感应的传导骚扰抗扰度试验判据准则同静电放电抗扰度试验。

4.6.9　工频磁场抗扰度试验

1. 试验内容

产品的工频磁场抗扰度试验主要考核电子设备在工频磁场环境中是否正常工作或性能降低。工频磁场一般是由导体中的工频电流产生的磁场，或极少量由附近的其他装置（如变压器的漏磁通）产生的磁场。本试验主要针对电子设备的整机、外壳进行考核。

2. 试验目的

产品在使用过程中，其整机处于工频电流产生的磁场干扰时，应能够正常工作，性能不会降低。

3. 试验依据

常用的产品工频磁场抗扰度试验标准如表 4-37 所示。

表 4-37　常用的产品工频磁场抗扰度试验标准

4. 试验方法

按照图 4-16 连接受试设备和测试设备。

试验磁场由流入感应线圈中的电流产生，用浸入法将试验磁场施加到受试设备上。测试设备包括电流源（试验发生器）、感应线圈和辅助试验仪器。

受试设备的布置和连接要满足其功能要求。受试设备应放在接地平板上，两者之间有 0.1m 厚的绝缘支撑物。

设备外壳应经 EUT 的接地端子直接与接地平板上的安全接地连接。

应使用由设备商提供或推荐的电缆。若没有推荐，则采用一种适合受试设备信号的无屏蔽电缆。所有电缆应有 1m 的长度暴露于磁场中。

工频磁场测量场地应满足标准规定的气候条件和电磁条件，实验室的电磁环境应能保证正确操作 EUT，而不影响试验结果。否则，试验应在法拉第笼中进行。特别是，实验室的背景电磁场应至少比所选定的试验等级低 20dB。

图 4-16　工频磁场抗扰度试验布置示意图

GB/T 17626.8—2006 中对工频磁场抗扰度的试验等级要求如表 4-38 所示。

表 4-38　工频磁场抗扰度的试验等级要求

工频磁场抗扰度试验判据准则同静电放电抗扰度试验。

4.6.10　电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验

1. 试验内容

产品的电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验主要对额定输入电流每相不超过 16A 连接到 50Hz 或者 60Hz 交流网络的电气、电子设备，在施加电压暂降、短时中断和电压变化等试验条件后，受试设备能否正常工作或性能降低进行考核。该试验主要针对电子设备的电源端口进行考核。

2. 试验目的

产品在使用过程中，其整机与电网连接时，遇到电网、电力设施的故障或负荷突然出现大的变化的时候，应能够正常工作，性能不会降低。

3. 试验依据

常用的产品电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验标准如表 4-39 所示。

表 4-39　常用的产品电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验标准

4. 试验方法

按照图 4-17 连接受试设备和测试设备。测试设备包括试验发生器。

对每项试验，应记录任何性能降低的情况，监视设备应能显示试验中和试验后 EUT 运行的状态，每组试验后，应进行一次全面的性能检查。

电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验测量场地应满足标准规定的气候条件和电磁条件。

GB/T 17626.11—2008 中对电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验等级要求如表 4-40 所示。

图 4-17　电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验原理图

表 4-40　电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验等级要求

电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验判据准则同静电放电抗扰度试验。

4.6.11　谐波电流发射试验

1. 试验内容

产品的谐波电流发射试验对准备接入公用低压配电系统的每相输入电流不大于 16A 的电气和电子设备的谐波分量进行检测。

2. 试验目的

通过对谐波电流发射进行检测来满足限值要求，为其他接入公用低压供电系统的设备的发射留有适当的余地。遵守标准的限值要求，可以保证谐波骚扰水平不超过相关公用低压供电系统所规定的兼容水平。

3. 试验依据

常用的产品谐波电流发射试验标准如表 4-41 所示。

表 4-41　常用的产品谐波电流发射试验标准

4. 试验方法

按照图 4-18，将受试设备与测试设备接好。

图 4-18　谐波电流发射试验布置示意图

谐波电流发射试验由谐波分析仪自动完成检测数据的采集和分析。

为了正确地选择谐波电流限值，将设备分类如下。

A 类：平衡的三相设备；家用电器，不包括列入 D 类的设备；工具，不包括便携式工具；白炽灯调光器；音频设备。未规定为 B、C、D 类的设备均应视为 A 类设备。

B 类：便携式工具；不属于专用设备的弧焊设备。

C 类：照明设备。

D 类：按照标准的 6.2.2 条款的要求，规定功率不大于 600W 的设备包括个人计算机和个人计算机显示器、电视接收机。

谐波电流发射的测量场地符合标准要求即可。

GB 17625.1—2012 中对谐波电流发射的限值要求如表 4-42 所示。

表 4-42　谐波电流发射的限值要求