在矽襯底上形成n型與p型區域
將作為雜質的原子進行離子化,在提供足夠的加速能量,將其註入到矽晶體中。
離子註入流程
離子源、質量分離器、加速器、離子束掃描、離子註入室
1f76e3bb0c4192477b6ced849b587e4b離子註入機
① 離子源:使電子與雜質的氣體分子碰撞產生所需離子
② 質量分離器:利用電場與磁場的作用去除不需要的離子
③ 加速器:通過施加高電壓給離子提供註入矽的能量
④ 束流掃描單元:對離子束進行整形,並掃描離子束將其註入晶圓
源極、漏極作為離子註入層(擴散層);柵極作為驅動晶體管的開關
a61b2c4b3ca77a2f21210d0a470b4e00CMOS邏輯晶體管
離子註入後的矽晶圓的晶格會受到註入離子的損傷,而且被註入的離子也需要位於正確的晶格點上,需要進行熱處理。
熱處理:晶體的恢復需要矽原子和雜質原子在熱的作用下,在單晶矽內移動,並落在矽的晶格點上。
使用N2或惰性氣體作為氣氛氣體,一次性可以處理大量的晶圓,但不能一下子使晶圓高溫,一次處理需幾個小時。
使用發出紅外線的燈,矽容易吸收紅外線,溫度上升快。RTA隻需10秒左右的時間就能加熱、處理一片晶圓。
使用紫外線激光器進行非晶矽的激光結晶,隻能被矽的最外表面吸收,隻有最外表面熔融,再結晶化。但需在晶圓上掃描,吞吐量也不如RTA。
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參考書籍:《圖解入門——半導體制造工藝基礎精講》
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