X射線熒光光譜分析儀（XRF）

一、X射線熒光光譜儀（XRF）基本原理

X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫學，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。

a) X射線用於元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以後，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用於冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。

b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量有關。

c) 根據各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各元素的含量信息。這就是X射線熒光分析的基本原理。

二、X射線熒光光譜儀（XRF）基本結構

現代X射線熒光光譜分析儀由以下幾部分組成;X射線發生器(X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置)、分光檢測系統（分析晶體、準直器與檢測器)、記數記錄系統（脈沖輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器)。

三、X射線熒光光譜儀（XRF）的應用

應用:

可以進行固體、粉末、薄膜、液體樣品及不規則樣品的無標樣元素的定性定量分析。主要用於金屬、無機非金屬等材料中化學元素的成分分析，范圍從‘Be ~92 U。

我們再來看看一些關於X射線熒光光譜儀（XRF）的常見問題吧!

XRF能掃描全部元素嗎?不能做全部元素掃描，因為輕質元素能量躍遷很小，不容易捕捉。最好情況下XRF能檢測Na（第十一號元素）以後的元素。

2.XRF測元素含量時 被測元素的化合價態對定量分析結果有沒有影響？

XRF隻能進行元素分析，而不能進行價態分析。即它的分析結果包括所有價態的元素總量。例如Cr的分析，它分辨不出材料中Cr是以金屬Cr、三價鉻還是六價鉻的形式存在，隻能給出總鉻的含粒

3.X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別？

X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用於對結晶物質的定性和定量分析。

X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。

兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。x射線熒光和x射線衍射的區別在於前者是對材料進行成份分析的儀器，而後者則主要是對材料進行微觀結構分析以便確定其物理性狀的設備。

4.X射線熒光光譜儀對樣品的要求？

1.粉末樣品需提供3-5g，樣品要200目以下，完全烘幹；

2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低於5mm，其他合金不小於1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm；

3.檢測單元表面盡量平整，且長寬不超過45mm

4.粉末樣品可能會使用硼酸壓片，如有特殊要求，請提前說明